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1
裸晶针测:CP(Chip Probe)
将晶片上的晶粒(Die or Chip)明升m88备用网址_明升88官网_明升体育,以其产品电性标准的规格检出良品的方式,又因大都是用 Wafer (晶圆) 测试,,故又称 WS( Wafer Sorting) 晶圆测试 。
2
最终测试:FT(Final Test)
即将出货给客户成品,对封装完成后的成品明升m88备用网址_明升88官网_明升体育,依其产品电性标准再做一次良品检出的电性测试,故有时也称成品测试 。
3
测试设备
Tester Type:
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